msiСовременная наука и инновацииModern Science and Innovations2307-910XNorth-Caucasus Federal University10.37493/2307-910X.2021.2.9msi-310Research ArticleТЕХНИЧЕСКИЕ НАУКИ ИНФОРМАТИКАINFORMATICS, COMPUTER ENGINEERING AND MANAGEMENTРАЗРАБОТКА МЕТОДА ПОВЫШЕНИЯ НАДЕЖНОСТИ СИСТЕМ ИДЕНТИФИКАЦИИ, ИСПОЛЬЗУЮЩИХ ФНФ В КРИСТАЛЛАХ СОЗУ В КАЧЕСТВЕ ИДЕНТИФИКАТОРАDEVELOPMENT OF METHOD FOR IMPROVING IDENTIFICATION SYSTEMS RELIABILITY USING SRAM PUF AS IDENTIFIERАлиевГ. С.AlievG. S.georgyaliev@gmail.comСеверо-Кавказский федеральный университетРоссияNorth-Caucasus Federal UniversityRussian Federation20210408202202101106Copyright © Алиев Г.С., 20222022Алиев Г.С.Aliev G.S.Данная работа распространяется под лицензией Creative Commons Attribution 4.0.This work is licensed under a Creative Commons Attribution 4.0 License.https://msi.elpub.ru/jour/article/view/310

В статье приведены результаты проведения исследования деградационного воздействия на ячейки памяти в процессе использования в качестве носителя ФНФ. Для его снижения были предложены и экспериментально оценены методы восстановления ячеек, которые повышают надежность систем идентификации, использующих в качестве носителя идентификатора стабильные значения ФНФ в кристаллах СОЗУ.

The article presents the research results of degradation effect on memory cells while used as PUF carrier. To reduce degradation, author proposed and experimentally evaluated new cell recovery methods which increases reliability of identification systems that use SRAM PUF stable cells as an identifier carrier.

физически неклонируемая функциястатические оперативно запоминающие устройствасистема идентификациистабильные и нестабильные ячейкиоценка надежностидеградация микросхемсистемный анализphysical unclonable functionstatic random-access memoryidentification systemstable and unstable cellssystem analysischip degradationReferencesGolanbari M. S. [и др.]. Reliable memory PUF design for low-power applications IEEE Computer Society, 2018.C. 207-213.Golanbari M. S. [и др.]. Reliable memory PUF design for low-power applications IEEE Computer Society, 2018.C. 207-213.Karimi N. [и др.]. Impact of the switching activity on the aging of delay-PUFs Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2017.Karimi N. [и др.]. Impact of the switching activity on the aging of delay-PUFs Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2017.Maes R. Physically unclonable functions: Constructions, properties and applications / R. Maes, Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2013. 1-185 c.Maes R. Physically unclonable functions: Constructions, properties and applications / R. Maes, Springer-Verlag Berlin Heidelberg, 2013. 1-185 c.Maes R., Leest V. Van Der Countering the effects of silicon aging on SRAM PUFs IEEE Computer Society, 2014.C. 148-153.Maes R., Leest V. Van Der Countering the effects of silicon aging on SRAM PUFs IEEE Computer Society, 2014.C. 148-153.Wang R. [и др.]. Long-term Continuous Assessment of SRAM PUF and Source of Random Numbers Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2020.C. 7-12.Wang R. [и др.]. Long-term Continuous Assessment of SRAM PUF and Source of Random Numbers Institute of Electrical and Electronics Engineers Inc., 2020.C. 7-12.

The authors declare that there are no conflicts of interest present.